大型・超大型三次元画像測定機に求められる要件

大型・超大型三次元測定機に求められる要件は、複合センサーシステム、測定容積、測定精度、測定速度、納期、そしてコストです。いずれの要件も満す測定機がマイクロ・ビュー三次元画像測定機です。
マイクロ・ビューは、測定容積(X軸 x Y軸)650 x 680mm 〜 1600 x 2500mm迄の大型、超大型三次元画像測定機世界市場で圧倒的なシェアーを誇る測定機会社です。

代表的な要件に対するマイクロ・ビューの特徴

システム構成図

マイクロ・ビュー大型・超大型三次元画像測定機 Excel シリーズ概要

見積り依頼はこちらから

各モデルの仕様は、弊社ホームページのカタログダウンロードサイトに掲載された総合カタログをご参照願います。

カタログダウンロードはこちらから

関連記事

  1. レーザー三角法センサー

  2. 環境温度:三次元測定機の意外に見落とされた落とし穴

  3. 三次元マルチセンサー測定機とは

  4. カメラ画面の測定視界を拡大

  5. DataTrans:トータルにカスタマイズした検査報告書