コラム

コプラナリティー(共平面性)

平面に対し、各部位の高低を測定し、その共平面度を出すコプラナリティーはICピンやコネクターピン、ケーブル断面等の測定以外にも様々な測定に応用できます。

 

共平面性(又は端子最下面均一性)

着座平面(その端子と接触する3点で作られる仮想平面)から、全ての端子の最下端迄の垂直方向のばらつきを言います。 即ち、最も離れた端子の最下点までの距離の最大値を端子最下面の共平面度yとします。

 

 

コプラナリティーの測定を開始すると、InSpec測定ソフトウェアー画面に共平面性が表示されます。 公差を入力すれば、公差内外の判定も行います。

下図はICピンの測定例です。

 

点群の編集

コプラナリティーの測定は各対象面にエリアフォーカス(点群)を入力して行います。 測定された点群のZの最大距離点、最小距離点が曲線編集画面から選択できます。 又、点群の範囲を指定して最大/最小値が選択できます。 範囲は矩形又は円形で指定できます。

・範囲指定された点群のみが測定対象になります。

 

矩形選択時の図形画面

円形選択時の図形画面

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