画像測定

上から見える部品の輪郭や形状を高速、高精度に測定する非接触式三次元画像測定（XYZ測定）は、測定機に内蔵されたCCDカメラで被測定物の幾何学的特徴（線、円、矩形、楕円等）のエッジ点を捉え、自動焦点（オートフォーカス）と自動照明（オートライティング）により撮像された画面を鮮明にし、画像処理によりエッジ間の寸法を測定します。

画像測定では、エッジの検出や鮮明な画像が重要で、自動照明と自動焦点機能は測定に重要な役割を果たします。

非接触式画像測定

一般的な単ーカメラ式の画像測定機では、「透明なガラス」や「黒色の樹脂」など、コントラストが低いワークのエッジ（輪郭）検出でエラーが起きがちです。また、設定やプログラミングが複雑で、現場の担当者に負担がかかるという課題がありました。マイクロビューの画像測定は、独自の「強力マクロリングライト」と自在な照明調整機能により、どんな表面状態のワークでも確実なエッジ検出を実現します。さらに、複雑なプログラミングは一切不要。「ポイント&クリック」の直感的な操作で、誰でも熟練者と同等の高精度な測定が可能です。将来的なマルチセンサー（プローブやレーザー）への拡張にも標準対応しており、導入後の測定ニーズの変化にも柔軟に対応します。

接触式では変形したり傷がついてしまう「柔らかい素材」や、プローブが届かない「微小な部品」の測定において、あらゆる業界で圧倒的な実績を持っています。

• 柔らかい・変形しやすい部品（0リング、ゴムシート、樹脂成型品）接触力で変位してしまうワークも、非接触の画像測定なら一瞬で正確な寸法を取得できます。
• 微小・精密電子部品（プリント基板、コネクタ、半導体部品）微細な回路パターンやピンのピッチも、高解像度カメラで鮮明に捉え、高速で自動測定します。
• 難素材（ガラスレンズ、透明フィルム）光が透過してしまう素材でも、独自の照明性能でエッジを際立たせて測定可能です。

Q. 傾斜している面にある形状も測定できますか？
A. はい、可能です。事前に傾斜面の角度を測定・入力しておくことで自動補正がかかり、傾斜面上でも正確な寸法データを出力することができます。

Q. 画像でのZ（高さ）測定は時間がかかると聞きますが、何か対策はありますか？
A. マイクロビューには「エリアフォーカス機能」が搭載されています。一度フォーカスを合わせるだけで、近傍エリアの約200点ものZ値を一瞬で収集できるため、高さ測定時間短縮の1つの方法として利用頂けます。

Q. 基板のように同じ穴が規則的に並んでいる部品を測る際、累積誤差が心配です。
A. 「ローカル原点」という機能をご利用いただけます。測定を進めながらサーチ範囲（原点）を細かく更新していくことで、長距離・多数個の測定でも累積誤差無しで、高精度を雑持し続けることが可能です。

御社で実際に製造されている部品をお預かりし、而像測定によるエッジ検出の精度確認や、測定スビードのシミュレーションを無料で行う「テスト測定（サンプル測定）」を承っております。